Interuniversity Microelectronics Centre dans la liste Stanford/Elsevier 2026
La liste Stanford/Elsevier réunit les 2 % de scientifiques les plus cités de chaque sous-domaine. Voici les personnes de cet établissement présentes dans au moins un de ses deux classements : celui de toute la carrière et celui de la dernière année (citations de 2025).
40
chercheurs dans la liste
12
rang national (Belgique)
1 493
rang mondial, sur 38 384
Rangs selon le nombre de personnes dans la liste ; nous les calculons avec les mêmes données.
Partagez-la avec votre département
La liste complète, avec le rang, le sous-domaine, le c-score, l'indice h et les citations de chacun, dans un fichier pour Excel.
Cliquez sur un nom pour voir sa fiche. Les colonnes donnent le rang dans le sous-domaine pour chaque liste.
| Nom | Sous-domaine | Carrière | Une année |
|---|---|---|---|
| Groeseneken, Guido | Applied Physics | 918 / 323 282 | 3 353 / 323 282 |
| Beyne, Eric | Electrical & Electronic Engineering | 144 / 133 072 | 132 / 133 072 |
| Maex, Karen | Applied Physics | 1 143 / 323 282 | — |
| Vandervorst, Wilfried B. | Applied Physics | 1 795 / 323 282 | — |
| van Setten, Michiel Jan | Applied Physics | — | 1 557 / 323 282 |
| Tilmans, Harrie A.C. | Nanoscience & Nanotechnology | 1 301 / 177 859 | — |
| Adelmann, Christoph | Applied Physics | 3 982 / 323 282 | 2 021 / 323 282 |
| Arkhipov, Vladimir I. | Applied Physics | 2 968 / 323 282 | — |
| Craninckx, Jan | Electrical & Electronic Engineering | 439 / 133 072 | 1 028 / 133 072 |
| Collaert, Nadine | Applied Physics | 4 327 / 323 282 | 4 788 / 323 282 |
| van der Heide, Paul A.W. | Applied Physics | 4 602 / 323 282 | 3 982 / 323 282 |
| Ryckaert, Julien | Applied Physics | — | 3 214 / 323 282 |
| Kaczer, Ben | Applied Physics | 5 105 / 323 282 | 5 206 / 323 282 |
| Degraeve, Robin | Applied Physics | 5 141 / 323 282 | — |
| Bender, Hugo M. | Applied Physics | 5 165 / 323 282 | — |
| Peumans, Peter | Applied Physics | 5 217 / 323 282 | — |
| Houssa, Michel | Applied Physics | 5 344 / 323 282 | — |
| Leonov, Vladimir N. | Applied Physics | 5 483 / 323 282 | — |
| Van Campenhout, Joris | Optoelectronics & Photonics | 1 185 / 140 272 | 642 / 140 272 |
| Horiguchi, Naoto | Applied Physics | — | 4 310 / 323 282 |
| de Bisschop, Peter | Optoelectronics & Photonics | 1 332 / 140 272 | 700 / 140 272 |
| van Houdt, Jan V. | Applied Physics | 6 418 / 323 282 | — |
| Jain, Suresh C. | Applied Physics | 6 484 / 323 282 | — |
| van Helleputte, Nick | Electrical & Electronic Engineering | 2 314 / 133 072 | 1 033 / 133 072 |
| Bourdoux, André A.B. | Networking & Telecommunications | — | 3 214 / 228 312 |
| López, Carolina Mora | Electrical & Electronic Engineering | 2 254 / 133 072 | 1 244 / 133 072 |
| Chen, Yangyin | Applied Physics | — | 5 583 / 323 282 |
| Kar, Gouri Sankar | Applied Physics | — | 6 087 / 323 282 |
| Beckers, Arnout | Applied Physics | — | 6 318 / 323 282 |
| Wambacq, Piet | Electrical & Electronic Engineering | 1 263 / 133 072 | — |
| Biswas, Dwaipayan | Electrical & Electronic Engineering | — | 1 779 / 133 072 |
| Jonckheere, Rik M. | Optoelectronics & Photonics | 1 885 / 140 272 | — |
| van der Plas, Geert A.M. | Electrical & Electronic Engineering | 1 482 / 133 072 | — |
| Sahli, Hichem | Artificial Intelligence & Image Processing | 10 934 / 517 648 | — |
| Fallica, Roberto A. | Optoelectronics & Photonics | — | 1 811 / 140 272 |
| Ronse, Kurt G. | Optoelectronics & Photonics | 2 613 / 140 272 | 2 610 / 140 272 |
| Lorusso, Gian Francesco | Optoelectronics & Photonics | — | 2 198 / 140 272 |
| Philipsen, Vicky | Optoelectronics & Photonics | — | 2 593 / 140 272 |
| Pantouvaki, Marianna | Optoelectronics & Photonics | — | 2 710 / 140 272 |
| de Simone, Danilo | Optoelectronics & Photonics | — | 2 804 / 140 272 |
Source : Ioannidis JPA, Elsevier (2026). August 2026 data-update for « Updated science-wide author databases of standardized citation indicators ». Mendeley Data, version 9. Licence CC BY-NC 3.0. doi:10.17632/btchxktzyw.9
Explore Labs n’a aucun lien avec l’Université Stanford ni avec Elsevier. Cet outil est gratuit.